东方晶源举行国内首台关键尺寸量测设备(CD-SEM)出机仪式,正式宣布斩获订单并出机中芯国际。
此次出机的关键尺寸量测设备(型号:SEpA-c410)面向 300mm(12 英寸)硅片工艺制程,可实现高重复精度、高分辨率及高产能的关键尺寸量测。进驻中芯国际后,将通过实际产线验证,进一步提升、完善设备,向产业化目标整体迈进。
芯片代工厂商要想生产出高良品率的芯片,除了芯片制造的主要工艺外,缺陷检测以及各项关键尺寸的检测也是工艺流程中不可或缺的环节。东方晶源出台的这台 300mm 硅片量测设备,其作用是对有效制程效力范围内的各项环节进行工艺评定。例如的薄膜厚度是否符合制程标准,芯片在完成刻蚀流程环节后,是否会影响硅片参数等。
此次出机仪式,标志着东方晶源继 2019 年攻克电子束缺陷检测技术后,再一次取得重大产品技术突破,填补了国产关键尺寸量测设备(CD-SEM)的市场空白。